Spotkanie z Michałem Zielińskim w Muzeum Powstania Warszawskiego
14 listopada Muzeum Powstania Warszawskiego organizuje kolejne wydarzenie z cyklu „Na pierwszej linii - spotkania z polskimi fotografami wojennymi”. Gościem będzie Michał Zieliński, dziennikarz i fotograf specjalizujący się w tematyce bliskowschodniej i państw postsowieckich.
Informacja prasowa
Cykl poświęcony współczesnej, polskiej fotografii wojennej. Na comiesięcznych spotkaniach słuchacze mogą wysłuchać i porozmawiać z czołowymi polskimi fotografami, którzy prezentują swoje zdjęcia ukazujące realia konfliktów zbrojnych.
W listopadzie naszym gościem będzie dziennikarz i fotograf Michał Zieliński, który specjalizuje się w tematyce bliskowschodniej i dotyczącej państw postsowieckich. Jego zdjęcie zdobyło m.in. pierwszą nagrodę w międzynarodowym konkursie NATO Photo Contest 2015. W trakcie spotkania zaprezentuje najnowsze fotografie wykonane na przełomie września i października tego roku w trakcie walk w syryjskiej Ar-Rakkce, nieformalnej stolicy tzw. Państwa Islamskiego.
Pokaże również zdjęcia, które we wcześniejszym okresie zrobił po stronie rządowej. Jak mówi
Mimo, że strefy wpływów Kurdów z Powszechnych Jednostek Obrony (YPG) oraz sił wiernych al-Assadowi dzielą niewielkie odległości, są to zupełnie inne, niepodobne do siebie światy. W Syrii takich różnic jest znacznie więcej.
Więcej informacji: www.1944.pl/artykul/na-pierwszej-linii.-michal-zielinski,4741.html.
- 14.11 (wtorek), godz. 18.00
- Audytorium Jana Nowaka-Jeziorańskiego,
- Wstęp wolny po rejestracji mailowej: spotkanie@1944.pl
Fot. Michał Zieliński / mat. MPW
Komentarz można dodać po zalogowaniu.
Zaloguj się. Jeżeli nie posiadasz jeszcze konta zarejestruj się.
Optyczne.pl jest serwisem utrzymującym się dzięki wyświetlaniu reklam. Przychody z reklam pozwalają nam na pokrycie kosztów związanych z utrzymaniem serwerów, opłaceniem osób pracujących w redakcji, a także na zakup sprzętu komputerowego i wyposażenie studio, w którym prowadzimy testy.
Wartosciowy news oczywiscie bez echa... tak to jest jak sie nie mozna pospuszczac nad rozdzielczosciami pod mikroskopem.