Przetwarzanie danych osobowych

Nasza witryna korzysta z plików cookies

Wykorzystujemy pliki cookie do spersonalizowania treści i reklam, aby oferować funkcje społecznościowe i analizować ruch w naszej witrynie, a także do prawidłowego działania i wygodniejszej obsługi. Informacje o tym, jak korzystasz z naszej witryny, udostępniamy partnerom społecznościowym, reklamowym i analitycznym. Partnerzy mogą połączyć te informacje z innymi danymi otrzymanymi od Ciebie lub uzyskanymi podczas korzystania z ich usług i innych witryn.

Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.

Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności. W dokumencie tym znajdziesz też więcej informacji na temat ustawień przeglądarki i sposobu przetwarzania twoich danych przez naszych partnerów społecznościowych, reklamowych i analitycznych.

Zgodę na wykorzystywanie przez nas plików cookies możesz cofnąć w dowolnym momencie.

Optyczne.pl

Fotomisja w Meksyku

Partnerzy








Oferta Cyfrowe.pl

Test obiektywu

Tokina ATX-M 33 mm f/1.4 X - test obiektywu

29 lipca 2022
Drukuj Podziel się
Arkadiusz Olech Komentarze: 27

6. Dystorsja i pole widzenia

Na początek zajmijmy się polem widzenia testowanego obiektywu. Zmierzyliśmy je wykonując zdjęcie rozgwieżdżonego nieba i dokonując transformacji pikseli do współrzędnych równikowych na sferze niebieskiej. To pozwoliło wyznaczyć pole z błędem nie przekraczającym 0.2–0.3 stopnia. Uzyskany wynik to 45.6 stopnia, który w zasadzie idealnie zgadza się z deklarowaną przez producenta wartością 45.7 stopnia.

Stare gaussowiskie standardy potrafiły prezentować trochę problemów z dystorsją i w niektórych przypadkach dochodziła ona do nawet −2%. Tokina pokazuje mniej problemów w tej kategorii, ale w jej przypadku mamy do czynienia ze zniekształceniami poduszkowymi. Wyniki uzyskane na plikach JPEG i RAW są, w granicach błędów pomiarowych, takie same i wynoszą odpowiednio +0.99% oraz +0.97%.

Nie są to wartości w żadnym wypadku uciążliwe, ale warto odnotować, że skomplikowany optycznie standard powinien skorygować dystorsję praktycznie do zera.

----- R E K L A M A -----

Fujifilm X-T2, 33 mm, JPEG
Tokina ATX-M 33 mm f/1.4 X - Dystorsja i pole widzenia
Fujifilm X-T2, 33 mm, RAW
Tokina ATX-M 33 mm f/1.4 X - Dystorsja i pole widzenia



Nowe testy

Nowe artykuły

Najczęściej czytane

Ostatnio komentowane

Ostatnio oceniane

Copyrights ©2006-2024 CO-NET Robert Olech.
 Strona wygenerowana w 0.019 sek.
Redakcja nie ponosi odpowiedzialności za ewentualne szkody powstałe w wyniku użytkowania jakichkolwiek tekstów i materiałów publikowanych w serwisie Optyczne.pl. Wydawcą Optyczne.pl jest firma CO-NET Robert Olech. Adres wydawcy oraz redakcji: ul. Żwirki i Wigury 11/34 83-000 Pruszcz Gdański Kopiowanie lub wykorzystywanie materiałów publikowanych na stronie bez zgody firmy CO-NET Robert Olech jest zabronione.

Serwis Optyczne.pl wykorzystuje pliki cookies, które są zapisywane na Twoim komputerze. Technologia ta jest wykorzystywana w celach funkcjonalnych, statystycznych i reklamowych. Pozwala nam określać zachowania użytkowników na stronie, dostarczać im odpowiednie treści oraz reklamy, a także ułatwia korzystanie z serwisu, np. poprzez funkcję automatycznego logowania. Pliki cookies mogą też być wykorzystywane przez współpracujących z nami reklamodawców, a także przez narzędzie Google Analytics, które jest przez nas wykorzystywane do zbierania statystyk. Korzystanie z serwisu Optyczne.pl przy włączonej obsłudze plików cookies jest przez nas traktowane, jako wyrażenie zgody na zapisywanie ich w pamięci urządzenia, z którego korzystasz.
Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.
Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności