Przetwarzanie danych osobowych

Nasza witryna korzysta z plików cookies

Wykorzystujemy pliki cookie do spersonalizowania treści i reklam, aby oferować funkcje społecznościowe i analizować ruch w naszej witrynie, a także do prawidłowego działania i wygodniejszej obsługi. Informacje o tym, jak korzystasz z naszej witryny, udostępniamy partnerom społecznościowym, reklamowym i analitycznym. Partnerzy mogą połączyć te informacje z innymi danymi otrzymanymi od Ciebie lub uzyskanymi podczas korzystania z ich usług i innych witryn.

Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.

Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności. W dokumencie tym znajdziesz też więcej informacji na temat ustawień przeglądarki i sposobu przetwarzania twoich danych przez naszych partnerów społecznościowych, reklamowych i analitycznych.

Zgodę na wykorzystywanie przez nas plików cookies możesz cofnąć w dowolnym momencie.

Optyczne.pl

Test obiektywu

Tokina AT-X 107 DX AF Fish-Eye 10-17 mm f/3.5-4.5 - test obiektywu

15 stycznia 2007

7. Koma i astygmatyzm


----- R E K L A M A -----

Z poniższych zdjęć widać wyraźnie, że koma nie przyczynia się do znacznego pogorszenia jakości obrazu na brzegu kadru i jest korygowana w sposób, który można uznać właściwy. Choć z drugiej strony, na zdjęciu nieba zaprezentowanym w przykładach na końcu testu, widać że koma wspólnie z nieostrością przyczyniają się jednak do spadku rozdzielczości.

Tokina AT-X 107 DX AF Fish-Eye 10-17 mm f/3.5-4.5 - Koma i astygmatyzm


Jeśli chodzi o astygmatyzm, to sprawa wygląda trochę gorzej. Średnia różnica pomiędzy pionowymi i poziomymi wartościami MTF50 mierzona w centrum kadru wyniosła prawie 12%. Warto przy tym zaznaczyć, że astygmatyzm był największy dla 10 mm i tutaj znów wpływ na pomiary może mieć specyfika odwzorowania i zniekształcenia.