Przetwarzanie danych osobowych

Nasza witryna korzysta z plików cookies

Wykorzystujemy pliki cookie do spersonalizowania treści i reklam, aby oferować funkcje społecznościowe i analizować ruch w naszej witrynie, a także do prawidłowego działania i wygodniejszej obsługi. Informacje o tym, jak korzystasz z naszej witryny, udostępniamy partnerom społecznościowym, reklamowym i analitycznym. Partnerzy mogą połączyć te informacje z innymi danymi otrzymanymi od Ciebie lub uzyskanymi podczas korzystania z ich usług i innych witryn.

Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.

Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności. W dokumencie tym znajdziesz też więcej informacji na temat ustawień przeglądarki i sposobu przetwarzania twoich danych przez naszych partnerów społecznościowych, reklamowych i analitycznych.

Zgodę na wykorzystywanie przez nas plików cookies możesz cofnąć w dowolnym momencie.

Optyczne.pl

Test obiektywu

Leica Summicron-M 28 mm f/2.0 Asph - test obiektywu

28 grudnia 2009

9. Odblaski

Umieszczając ostre źródło światła w jednym z rogów kadru i zmieniając lekko jego położenie oraz wartość przysłony, można uzyskać dwa typy artefaktów świetlnych: położony stosunkowo blisko centrum kadru tęczowy łuk lub znajdujący się w rogu kadru kolorowy blik. Oba artefakty prezentujemy na zdjęciach poniżej.
----- R E K L A M A -----


Leica Summicron-M 28 mm f/2.0 Asph - Odblaski

Leica Summicron-M 28 mm f/2.0 Asph - Odblaski