Przetwarzanie danych osobowych

Nasza witryna korzysta z plików cookies

Wykorzystujemy pliki cookie do spersonalizowania treści i reklam, aby oferować funkcje społecznościowe i analizować ruch w naszej witrynie, a także do prawidłowego działania i wygodniejszej obsługi. Informacje o tym, jak korzystasz z naszej witryny, udostępniamy partnerom społecznościowym, reklamowym i analitycznym. Partnerzy mogą połączyć te informacje z innymi danymi otrzymanymi od Ciebie lub uzyskanymi podczas korzystania z ich usług i innych witryn.

Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.

Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności. W dokumencie tym znajdziesz też więcej informacji na temat ustawień przeglądarki i sposobu przetwarzania twoich danych przez naszych partnerów społecznościowych, reklamowych i analitycznych.

Zgodę na wykorzystywanie przez nas plików cookies możesz cofnąć w dowolnym momencie.

Optyczne.pl

Test obiektywu

Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - test obiektywu

14 sierpnia 2025

8. Winietowanie

W przypadku systemów pełnoklatkowych podawaliśmy wyniki winietowania zarówno dla mniejszej matrycy APS-C jak i dla pełnej klatki. Było to związane z tym, że systemy Canona, Nikona, Pentaksa, Sony czy Sigmy miały jeden bagnet, który pozwalał obiektywy pełnoklatkowe podłączać zarówno do korpusów pełnoklatkowych, jak i tych wyposażonych w matrycę APS-C/DX. Informacja o winietowaniu czy dystorsji na tym drugim, mniejszym detektorze była więc dla niektórych użytkowników bardzo istotna. Panasonic też rozwija obecnie dwa systemy, czyli L-mount oraz Mikro 4/3. Nie są jednak one ze sobą kompatybilne i obiektywów jednego systemu nie możemy podłączać do drugiego. W przypadku Leiki jest jednak trochę inaczej, bo obiektywy SL możemy podłączać zarówno do korpusów pełnoklatkowych, ale także do trochę starszych modeli z matrycą APS-C, takich jak choćby Leica T, TL, TL2 czy CL. Chcąc jednak zastosować takie samo podejście dla całego bagnetu L, będziemy omawiać winietowanie (a także dystorsję) wyłącznie w oparciu o detektor pełnoklatkowy.

Jak można było zauważyć w poprzednich rozdziałach, dane dla brzegu matrycy APS-C/DX zostały jednak pozostawione dla pomiarów rozdzielczości i aberracji chromatycznej. W tych przypadkach było to ważne, bo dawało nam dodatkową informację o rozkładzie ostrości i aberracji chromatycznej w całym analizowanym kadrze.

Najpierw zajmiemy się omówieniem winietowania obserwowanego na nieskorygowanych pod tym względem plikach JPEG.

----- R E K L A M A -----

S1R II, FF, JPEG, f/2.0 S1R II, FF, JPEG, f/2.8
Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie
S1R II, FF, JPEG, f/4.0 S1R II, FF, JPEG, f/5.6
Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie


Duże rozmiary Leiki pozwalają na dość rozsądne zachowanie w tej kategorii. Na maksymalnym otworze względnym spadek jasności w samym rogu kadru wynosi bowiem 40% (-1.46 EV). Ten wynik wciąż, choć już marginalnie, mieści się w granicach wartości, które uznajemy za umiarkowane. Na pochwałę zasługuje też bardzo szybki spadek winietowania wraz z przymykaniem przysłony. Na f/2.8 mamy bowiem do czynienia z małą wartością 22% (-0.72 EV), natomiast na przysłonach f/4.0 i f/5.6 omawiana wada robi się praktycznie całkowicie niewidoczna, bo uzyskane tam rezultaty to odpowiednio: 10% (-0.30 EV) i 4% (-0.13 EV).

Jako bonusowy dodatek do tego rozdziału możemy jeszcze sprawdzić, jak wygląda winietowanie na nieskorygowanych plikach RAW, które mają odrobinę większe pole widzenia niż JPEG-i.

S1R II, FF, RAW, f/2.0 S1R II, FF, RAW, f/2.8
Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie
S1R II, FF, RAW, f/4.0 S1R II, FF, RAW, f/5.6
Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie


W tym przypadku, na maksymalnym otworze względnym, spadek jasności w rogach kadru sięga 45% (-1.74 EV) i zmniejsza się do 27% (-0.92 EV) po przymknięciu przysłony do f/2.8. Zastosowanie przysłony f/4.0 powoduje, że omawiana wada spada do niewielkiej wartości 13% (-0.42 EV), a wszystkie problemy kończą się na świetle f/5.6, gdzie uzyskany przez nas rezultat to tylko 6% (-0.18 EV).

Panasonic S1R II, JPEG, 75 mm, f/2.0
Leica APO-Summicron-SL 75 mm f/2 ASPH. - Winietowanie

----- R E K L A M A -----

WYMIEŃ STARE NA NOWE Z NIKON!

Nikon Z5 II

7944 zł 7524 zł

Nikon Z8

16498 zł 15238 zł

Nikon Z8

16498 zł 15238 zł

Nikon Z6 III

9997 zł 9157 zł
Kupujemy używany sprzęt za gotówkę. Raty 20x0%!