Przetwarzanie danych osobowych

Nasza witryna korzysta z plików cookies

Wykorzystujemy pliki cookie do spersonalizowania treści i reklam, aby oferować funkcje społecznościowe i analizować ruch w naszej witrynie, a także do prawidłowego działania i wygodniejszej obsługi. Informacje o tym, jak korzystasz z naszej witryny, udostępniamy partnerom społecznościowym, reklamowym i analitycznym. Partnerzy mogą połączyć te informacje z innymi danymi otrzymanymi od Ciebie lub uzyskanymi podczas korzystania z ich usług i innych witryn.

Masz możliwość zmiany preferencji dotyczących ciasteczek w swojej przeglądarce internetowej. Jeśli więc nie wyrażasz zgody na zapisywanie przez nas plików cookies w twoim urządzeniu zmień ustawienia swojej przeglądarki, lub opuść naszą witrynę.

Jeżeli nie zmienisz tych ustawień i będziesz nadal korzystał z naszej witryny, będziemy przetwarzać Twoje dane zgodnie z naszą Polityką Prywatności. W dokumencie tym znajdziesz też więcej informacji na temat ustawień przeglądarki i sposobu przetwarzania twoich danych przez naszych partnerów społecznościowych, reklamowych i analitycznych.

Zgodę na wykorzystywanie przez nas plików cookies możesz cofnąć w dowolnym momencie.

Optyczne.pl

Test obiektywu

Leica Summicron-M 50 mm f/2.0 - test obiektywu

19 października 2009

8. Winietowanie

Leica M9 w swoim menu oferuje użytkownikowi funkcję Lens Auto Detection, która po włączeniu rozpoznaje obiektyw, wpisuje jego ogniskową do EXIF-a i jednocześnie ma informację o jego wadach. Dzięki temu możliwe jest automatyczne korygowanie winietowania. Wyłączenie tej funkcji powoduje, że korpus nie rozpoznaje obiektywu i nie koryguje wad. Właśnie w takiej konfiguracji testowaliśmy winietowanie Summicrona-M 50 mm f/2.0.

Producent, w swojej specyfikacji, wyraźnie podaje, że winietowanie testowanego obiektywu jest spore, co pokazuje ich własny wykres, który prezentujemy poniżej.

Leica Summicron-M 50 mm f/2.0 - Winietowanie


----- R E K L A M A -----

Nasze pomiary w zasadzie potwierdzają to co widzimy powyżej. Na maksymalnym otworze, spadek jasności w rogach kadru sięga aż 57% (-2.4 EV). Po przymknięciu przysłony do f/2.8 problem zmniejsza się do poziomu 37%, a dla f/4.0 do 20%. Winietowanie robi się praktycznie niezauważalne dla przysłon f/5.6 i f/8.0, gdzie wynosi odpowiednio 14% i 11%.

Leica Summicron-M 50 mm f/2.0 - Winietowanie


Leica Summicron-M 50 mm f/2.0 - Winietowanie